溫度循環(huán)實驗

LED產(chǎn)品在實踐運(yùn)用中能夠會碰到溫度急巨變更的環(huán)境。例如，在酷寒的冬天，金鑒實驗室工程師將LED產(chǎn)品從室外拿到室內(nèi)任務(wù)，或許從室內(nèi)拿到室外任務(wù)，就會碰到溫度的大幅度變更；如LED光源運(yùn)用于載人航天器，作為出艙運(yùn)動的照明燈，為太空人出艙行走和太空圖像拍照供給照明。外太空環(huán)境龐雜，地影區(qū)（背叛太陽）溫度在－60～－70℃，日照區(qū)溫度高，在＋200℃左右。因而，請求LED產(chǎn)品具備能蒙受這種溫度敏捷變更的才能。

艾斯瑞儀器供給溫度循環(huán)／溫度沖擊實驗，幫助客戶更好地理解產(chǎn)品的性能。

溫度循環(huán)實驗的嚴(yán)厲登記由組成循環(huán)實驗的高低溫溫度值、均衡時光、轉(zhuǎn)換時光及循環(huán)次數(shù)抉擇。相干標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則高低溫應(yīng)從GB÷T2421－2001《實驗A：低溫》和GB÷T2423。2－2001《實驗B：低溫》規(guī)則的實驗溫度當(dāng)選取。循環(huán)次數(shù)個別為5個，轉(zhuǎn)換時光為2～3min。

熱沖擊實驗

熱沖擊實驗是溫度猛烈變更環(huán)境下的實驗。熱沖擊實驗的順序和方式與溫度循環(huán)實驗基礎(chǔ)一樣，金鑒實驗室專家剖析兩者的重要差別是：熱沖擊實驗的溫度變更更為猛烈，即被實驗樣品的低溫順低溫的轉(zhuǎn)換時光要小很多（為此，熱沖擊實驗必需有兩個溫度箱），轉(zhuǎn)換后盡快到達(dá)新的溫度?？刹扇∫翰凼綗釠_擊實驗箱進(jìn)行熱沖擊實驗。將樣品放入試料籃內(nèi)，通過高低左右主動前后挪動的安裝挪動試料籃至預(yù)熱槽或預(yù)冷槽，進(jìn)行來回沖擊實驗，低溫為125℃，低溫為－40℃，低溫順低溫的停留時光為5～30min，轉(zhuǎn)換時光為20s，循環(huán)次數(shù)為200次。在熱沖擊實驗前后，均對樣品進(jìn)行形貌檢討和光電參數(shù)檢討實驗。

干冷實驗

在寒帶，雨后會形成低溫、高濕的環(huán)境，濕度大于98％。干冷實驗的目標(biāo)是為了肯定LED產(chǎn)品在低溫、高濕或許伴有溫度、濕度變更條件下任務(wù)或貯存的適應(yīng)才能。我國規(guī)則了恒定干冷和交變干冷兩種實驗。

溫度循環(huán)實驗 （Thermal Cycling Test）

在產(chǎn)品的性命周期中，能夠面臨各種環(huán)境的條件下，使得產(chǎn)品在軟弱的部份浮現(xiàn)進(jìn)去，形成產(chǎn)品的傷害或生效，進(jìn)而影響到產(chǎn)品的牢靠度。

以每分鐘5~15度的溫變率，在溫度變更上做一連串的高、低溫循環(huán)測試，此實驗并非真正模仿實踐狀況。其目標(biāo)在施加應(yīng)力于試件上，減速試件之老化因子，使試件在環(huán)境因素下能夠發(fā)生傷害體系設(shè)備及零組件，以抉擇試件能否準(zhǔn)確設(shè)計或制作。

罕見的有：

產(chǎn)品之電性功用

光滑劑蛻變而失去光滑作用

損失機(jī)械強(qiáng)度，形成決裂、裂痕

材質(zhì)之蛻變而引起化學(xué)作用

溫度循環(huán)實驗運(yùn)用規(guī)模：

模塊÷體系成品類產(chǎn)品環(huán)境仿真實驗

模塊÷體系成品類產(chǎn)品應(yīng)力壽命實驗（Strife test）

PCB÷PCBA÷焊點(diǎn)減速應(yīng)力實驗（ALT÷AST）…

溫度沖擊實驗（Thermal Shock）

在產(chǎn)品的性命周期中，能夠面臨各種環(huán)境的條件下，使得產(chǎn)品在軟弱的部份浮現(xiàn)進(jìn)去，形成產(chǎn)品的傷害或生效，進(jìn)而影響到產(chǎn)品的牢靠度。

以每分鐘40度的溫變率，在溫度急速變更上做極嚴(yán)苛條件之高、低溫沖擊測試，此實驗并非真正模仿實踐狀況。其目標(biāo)在施加嚴(yán)苛應(yīng)力于試件上，減速試件之老化因子，使試件在環(huán)境因素下能夠發(fā)生潛在性傷害體系設(shè)備及零組件，以抉擇試件能否準(zhǔn)確設(shè)計或制作。

罕見的有：

產(chǎn)品之電性功用

產(chǎn)品構(gòu)造損壞或強(qiáng)度降落

零組件之錫裂景象

材質(zhì)之蛻變而引起化學(xué)作用

密封傷害

運(yùn)用規(guī)模：

PCB牢靠度減速實驗

車電模塊減速壽命實驗

LED零件減速實驗…

溫度循環(huán)實驗 溫度變更對產(chǎn)品的影響：

 元器件涂覆層脫落、灌封資料和密封化合物龜裂甚至破密封外殼開裂、填充料走漏等，使得元器件電性能降落；

 由不同資料形成的產(chǎn)品，溫度變更時產(chǎn)品受熱不平均，招致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品開裂、玻璃或玻璃器皿和光學(xué)器等破碎；

 較大的溫差，使得產(chǎn)品在低溫時外表會發(fā)生凝露或結(jié)霜，在低溫時蒸發(fā)或消融，如此重復(fù)作用的后果招致和減速產(chǎn)品的侵蝕。

溫度變更環(huán)境效應(yīng)：

 玻璃制品和光學(xué)設(shè)備決裂。

 可動零件卡逝世或松動。

 構(gòu)造發(fā)生分別。

 電性轉(zhuǎn)變。

 因為急速凝聚水或結(jié)冰形成電子或機(jī)械生效。

 以顆粒狀或紋狀發(fā)生決裂。

 不同資料之不同壓縮或壓縮特征。

 組件變形或決裂。

 外表涂料之龜裂。

 密封艙之漏氣。